生產(chǎn)過程損傷對(duì)云母損失量的影響

在開采過程中，會(huì)產(chǎn)生大量的云母晶維損傷。1953年A.H.瑪爾闊夫教授曾論證了在生產(chǎn)過程中由于損傷造成的云母損失量的問題。曾用三種方法進(jìn)行研究。

（1）按采出云母量和從生料到工業(yè)原料云母的出成率，對(duì)兩個(gè)用不同采礦法的礦塊的回采結(jié)果進(jìn)行比較的方法。但由于在一個(gè)礦塊范圍內(nèi)云母的空間分布不穩(wěn)定和云母質(zhì)量不穩(wěn)定而不適用。

（2)試驗(yàn)工作與地質(zhì)推斷成果的對(duì)照法，這種方法由于地質(zhì)資料的可靠性不高也不能采用。

（3)晶體“檢驗(yàn)”法。晶體“檢驗(yàn)”法的基本概念概括如下，直接在工作面選出100―150個(gè)云母晶體，這些晶體經(jīng)過檢查登記、打上標(biāo)記后投入生產(chǎn)過程中。云母粉加工設(shè)備有很多種，其中較常用到的就是云母粉碎機(jī)了。晶體經(jīng)歷生產(chǎn)過程后，從云母總量中選出，根據(jù)試驗(yàn)前后晶體狀態(tài)的比較，做出關(guān)于該過程由于損傷對(duì)云母損失量的影響的結(jié)論。

試樣中的晶體重量損失為這一生產(chǎn)過程的總損失。這里，主要不足之處是沒有考慮生料的實(shí)際組成以及晶體厚度同云母損傷程度的關(guān)系?？茖W(xué)技術(shù)博土A.A.卡布斯金提出了晶體“標(biāo)記”法。這個(gè)方法與晶體“檢驗(yàn)”法的概念基本上相同，前者僅考慮了晶體面積與云母損傷的關(guān)系，而晶體“標(biāo)記”法考慮了晶體厚度與云母損傷的關(guān)系。這極為重要，因?yàn)榫w薄片比厚片在很大程度上易受損傷。晶體“標(biāo)記”法系根據(jù)每個(gè)單獨(dú)晶體在一定面積上和厚度上的損傷，用計(jì)算方法確定全部晶體損傷。

晶體“標(biāo)記”法以如下的基本現(xiàn)象為根據(jù)：

云母晶體損傷程度取決于生產(chǎn)過程和在生產(chǎn)過程中的云母質(zhì)量特征，只是當(dāng)具有外部損傷時(shí)才可能有晶體的內(nèi)層損傷，當(dāng)“標(biāo)記”晶體的數(shù)量足夠時(shí)，由于它的損傷而造成的云母損失可能代表全部投入生產(chǎn)過程中的云母。晶體“標(biāo)記”法的實(shí)質(zhì)在于如下幾點(diǎn)，在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)將專門選擇的云母晶體試樣，全部或者部分地涂以抗水彩色油漆作為標(biāo)記投入生產(chǎn)過程中。當(dāng)采集試樣時(shí)，要用晶體輪廓圖準(zhǔn)確地標(biāo)定每個(gè)晶體的特征，注明存在的裂紋及其它破壞，稱重并測(cè)量它的厚度。在生產(chǎn)過程結(jié)束之后，選出“標(biāo)記”晶體并重新進(jìn)行仔細(xì)的分析，以確定晶體發(fā)生變化的特征。

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